一、电脑膜层（漆膜）测厚仪发展概述
厚度测量是涂镀层物性检测的重要项目之一，伴着新型工程材料开发，微电子技术应用和标准化事业进展，电脑膜层（漆膜）测厚技术近几年来在国内外得到迅速发展。与此同时，采取多种原理，应用范围广泛，有较高科技含量，日趋智能化的各类电脑膜层（漆膜）测厚仪相继问世，有力地推动了工程物理检测的发展。与国外先进技术和同类产品相比，目前我国涂镀层测厚技术在总体上相当于先进工业国家19世纪90年代初期水平，面对入世和国际经贸一体化的挑战，我们当奋起直追，增强参与国际竞争的适应力和创新意识，抢抓机遇，努力实现测厚技术的跨越式发展。
二、电脑膜层（漆膜）测厚仪开发日趋智能化
回顾电脑膜层（漆膜）测厚仪技术发展的历史沿革，集中表现为以下技术特征：
电路设计：电子管———晶体管———集成电路———专用芯片L
模块化。
整机功能：单(原理)功能型———具有部分统计功能型———双
原理通用型———智能型。
探头制式：主机探头分离式———主机与探头一体式(内置式
探头)———主机配多规格探头(可供选择更换)。
量值显示：机械式(千分表)———表头指针式———液晶数字
式———数据打印式(外接或内置)。
三、总结
在先进工业国家，电脑膜层（漆膜）测厚仪技术标准已自成体系，而且有多种规格的涂镀层测厚仪可同时兼顾双重原理，满足多项试验方法标准要求，因而大大地拓展其应用领域。也为我国采用国外先进技术标准，推动国产仪器更新换代提供了借鉴与参考。
来源：www.haondt.com
作者：易畅
发布时间：2011-06-16
