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普通超声波测厚仪的难题

发射信号的时间点,并不是超声波从被测件表面开始向材质内部传递的起始点,那么,普通超声波测厚仪的这种“计时”方式所得出的厚度值就必然包含了延迟块、耦合剂层等的换算厚度。无论这个换算厚度是否在误差允许范围内、也无论是否采用校准方式扣减了这个换算厚度,这个换算厚度的客观存在及其对实际测厚的影响是毋庸置疑的。另一方面,如果遇到有覆盖层的情形,比如,钢基体上面涂漆,漆与钢分界面产生的回波信号的强度可能也会高过那个预设值,仪器就会误判,把这个分界面的回波信号当成钢基体底面回波的信号。即便没有高过那个预设值,那么,漆的换算厚度也无法通过校准的方式予以扣减。因此,普通超声波测厚仪在测量的合理性和准确性方面始终存在局限。“E-TO-E 回波—回波”和“AGC 自动增益”的应用意义为了突破这个局限,人们意识到了“E-TO-E”和“AGC”的应用意义。在“E-TO-E”模式下,仪器不是记录发射信号和反射信号的时间差,而是记录第一次底面反射信号(一次底面回波)和第二次底面反射信号(二次底面回波)的时间差,将延迟块、耦合剂层、漆层(如果有的话)等的反射信号直接排除在外,不存在它们的换算厚度问题。“AGC”又是“E-T0-E”的基础,“自动增益”并非“增益调节”。它的应用可以对第一次底面反射回波之前的信号进行抑制、减少干扰,同时对第一次底面反射回波之后的信号进行增益,以提高第二次底面反射回波的强度,便于其被捕捉记录。因此,在“AGC 自动增益”基础上的“E-T0-E 回波-回波”测量模式可以真正实现对材料基体上下表面的测量,其测厚的合理性与准确性有了本质上的突破。


来源:www.haondt.com
作者:易畅
发布时间:2011-07-11

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