X荧光测厚仪的性能及特点：
1、满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
2、φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
3、高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
4、采用高度定位激光，可自动定位测试高度
5、定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
6、鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
7、高分辨率探头使分析结果更加精准
8、良好的射线屏蔽作用
9、测试口高度敏感性传感器保护
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来源：www.haondt.com
作者：易畅
发布时间：2012-08-06
